NCM 9031.41.00 – Optical inspection for semiconductors, photomasks

Official description of NCM 9031.41.00

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Para controle de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados), ou para controle de fotomáscaras ou retículos utilizados na fabricação de dispositivos semicondutores (incluindo os circuitos integrados)

EnglishUnofficial translation

Optical instruments and appliances; for inspecting semiconductor wafers or devices or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices, n.e.c. in chapter 90

Nomenclatura Comum do Mercosul (Siscomex). Updated Oct 2026 · In force since Apr 2022 (Res Gecex 272/2021).

How to read NCM 9031.41.00

The first 6 digits are the international HS code, so their meaning is the same in every country; Brazil publishes the text in Portuguese. The last two digits are 00 because Brazil does not split this HS code further. The full 8-digit code is used on import declarations (DUIMP), invoices (NF-e) and tax filings.

Full classification path

1. Chapter 90 Optical, photographic, cinematographic, measuring, checking, medical or surgical instruments and apparatus; parts and accessories Instrumentos e aparelhos de óptica, de fotografia, de cinematografia, de medida, de controle ou de precisão; instrumentos e aparelhos médico-cirúrgicos; suas partes e acessórios.
2. Heading 90.31 Measuring or checking instruments, appliances and machines, n.e.c. or included in this chapter; profile projectors Instrumentos, aparelhos e máquinas de medida ou controle, não especificados nem compreendidos noutras posições do presente Capítulo; projetores de perfis.
3. Group 9031.4 Other optical instruments and appliances: Outros instrumentos e aparelhos ópticos:
4. Subheading 9031.41 Optical instruments and appliances; for inspecting semiconductor wafers or devices or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices, n.e.c. in chapter 90
5. Subitem 9031.41.00 Optical instruments and appliances; for inspecting semiconductor wafers or devices or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices, n.e.c. in chapter 90 Para controle de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados), ou para controle de fotomáscaras ou retículos utilizados na fabricação de dispositivos semicondutores (incluindo os circuitos integrados)

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